Interakce světla s látkou závisí na optických vlastnostech zkoumaného materiálu a na vlnové délce světla, kterým si na náš experiment posvítíme. Chceme-li určit optické vlastnosti materiálu v určité části spektra elektromagnetického záření, provádíme spektroskopii. Naše instrumentální zázemí je schopné pokrýt velice širokou oblast počínaje teraherzovou oblastí až do blízké ultrafialové oblasti. Jeden z klíčových pilířů naší práce je specializace na určení kompletních polarizačních vlastností materiálu pomocí elipsometrie. Perličkou naší laboratoře je časově rozlišená terahertzová spektroskopie. Ta na rozdíl od běžných optických metod dovoluje kromě intenzity záření detekovat i jeho fázi, tedy kompletní optickou odezvu. Naprostou novinkou je prototyp mikroskopu Muellerovy matice představující kombinaci klasického optického mikroskopu a spektroskopického elipsometru. Právě tato kombinace dává studiu polarizačních vlastností zcela nový rozměr.
Přístroje:
- Spektroskopický elipsometr Mullerovy matice, Woollam RC2-DI
- Dvousvazkový spektrometr UV-Vis-NIR, Agilent Cary 7000 UMS UV-Vis-NIR
- Infračervený spektrometr, VERTEX 70v
- Modulární mikroskop atomárních sil, NTEGRA
- Polarimetr Mullerovy matice, HORIBA
