Laboratoře elektronové mikroskopie jsou vybaveny řádkovacími elektronovými mikroskopy, které umožňuji charakterizovat strukturu materiálů, fraktografickou analýzu lomových ploch, jejich hodnocení a analýzu příčin výrobních problémů a optimalizace výrobních procesů. Kromě zobrazení struktury při vysokém rozlišení pomocí energiově disperzní spektrální mikroanalýzy lze provést bodovou, plošnou analýzu, liniovou a RTG mapy rozložení prvků v materiálu. V mikroskopech lze volit tlak v pracovní komoře, a tak je možné studovat částečně nevodivé vzorky bez úprav zvodivění. Také naše laboratoře umožňují provádět EBSD analýzu pro detailnější charakterizaci materiálů.
Laboratoř je také vybavena prozařovacím elektronovým mikroskopem, který slouží pro detailnější charakterizaci struktury kovových i nekovových materiálů. Vysoká rozlišovací schopnost umožňuje studovat jemné detaily struktury, včetně stanovení lokálního chemického složení krystalografických parametrů koexistujících fází/mikrostrukturních složek.
Přístroje:
- Řádkovací elektronový mikroskop JEOL 6490 LV vybavený analyzátorem EDS Oxford Inca x-atc – lze využít pro strukturně fázové analýzy kovových i nekovových materiálů, fraktografické rozbory, hodnocení degradace struktury materiálů, analýza příčin výrobních problémů a optimalizace výrobních procesů, EDS mikrosnalýza (bodový, plošná a liniový analýza, RTG mapy rozložení prvků)
- Řádkovací elektronový mikroskop QUANTA FEG 450 vybaven EDS analyzátorem EDAX a Hikari kamerou pro EBSD analýz firmy EDAX - lze využít pro strukturně fázové analýzy kovových i nekovových materiálů, fraktografické rozbory, hodnocení degradace struktury materiálů, analýza příčin výrobních problémů a optimalizace výrobních procesů, EDS mikrosnalýza (bodový, plošná a liniový analýza, RTG mapy rozložení prvků), EBSD analýza
- Prozařovací elektronový mikroskop JEM-2100 – studium substruktury materiálů za použití extrakčníchuhlíkových replik nebo tenkých fólií, fázová analýza materiálů pomocí kombinace elektronové difrakce a RTG mikroanalýza, stanovení hustoty dislokací, studium procesů degradace struktury v závislosti na parametrech expozice (vliv prostředí, teploty a podmínek zatěžování), možnost přípravy tenkých fólií elektrolytickým odlešťováním i iontovým odprašováním
Kontakt:
- Řádkovací elektronový mikroskop JEOL 6490 LV – Ing. Kateřina Konečná, Ph.D.
- Řádkovací elektronový mikroskop QUANTA FEG 450 – Ing. Anastasia Volodarskaja, Ph.D.
- Prozařovací elektronový mikroskop JEM-2100 – prof. Ing. Vlastimil Vodárek, CSc.